Dostawa zintegrowanego systemu do pomiaru charakterystyk I-V i C-V struktur półprzewodnikowych
- Źródło
- ezamowienia.gov.pl
- Status
- Udzielono zamówienia
- Zamawiający
- SIEĆ BADAWCZA ŁUKASIEWICZ - INSTYTUT MIKROELEKTRONIKI I FOTONIKI
- Termin składania ofert
- Zakończone
- Kody CPV
- 38410000Przyrządy pomiarowe
Przegląd AI
Description
Przedmiotem zamówienia jest dostawa, instalacja i uruchomienie zintegrowanego systemu do pomiaru charakterystyk I-V i C-V struktur półprzewodnikowych wraz ze szkoleniem i dokumentacją
Details
- Opublikowano
- ID przetargu
- ocds-148610-c7d4a426-2dc4-4402-a1f8-9493b41308b5
- ID zasobu
- 2026/BZP 00162813/01