TenderGlassGo to app

      Dostawa zintegrowanego systemu do pomiaru charakterystyk I-V i C-V struktur półprzewodnikowych

      Source
      ezamowienia.gov.pl
      Status
      Awarded
      Buyer
      SIEĆ BADAWCZA ŁUKASIEWICZ - INSTYTUT MIKROELEKTRONIKI I FOTONIKI
      Submission deadline
      Closed
      CPV codes
      • 38410000Metering instruments

      AI Overview

      Show more

      Description

      Przedmiotem zamówienia jest dostawa, instalacja i uruchomienie zintegrowanego systemu do pomiaru charakterystyk I-V i C-V struktur półprzewodnikowych wraz ze szkoleniem i dokumentacją

      Details

      Published at
      Tender ID
      ocds-148610-c7d4a426-2dc4-4402-a1f8-9493b41308b5
      Resource ID
      2026/BZP 00162813/01

      Documents (1)