Dostawa zintegrowanego systemu do pomiaru charakterystyk I-V i C-V struktur półprzewodnikowych
- Source
- ezamowienia.gov.pl
- Status
- Awarded
- Buyer
- SIEĆ BADAWCZA ŁUKASIEWICZ - INSTYTUT MIKROELEKTRONIKI I FOTONIKI
- Submission deadline
- Closed
- CPV codes
- 38410000Metering instruments
AI summary
Description
Przedmiotem zamówienia jest dostawa, instalacja i uruchomienie zintegrowanego systemu do pomiaru charakterystyk I-V i C-V struktur półprzewodnikowych wraz ze szkoleniem i dokumentacją
Details
- Published at
- Tender ID
- ocds-148610-c7d4a426-2dc4-4402-a1f8-9493b41308b5
- Resource ID
- 2026/BZP 00162813/01