Dostawa zintegrowanego systemu do pomiaru charakterystyk I-V i C-V struktur półprzewodnikowych
- Allikas
- ezamowienia.gov.pl
- Staatus
- Leping sõlmitud
- Ostja
- SIEĆ BADAWCZA ŁUKASIEWICZ - INSTYTUT MIKROELEKTRONIKI I FOTONIKI
- Pakkumiste esitamise tähtaeg
- Suletud
- CPV koodid
- 38410000Mõõturid
AI kokkuvõte
Description
Przedmiotem zamówienia jest dostawa, instalacja i uruchomienie zintegrowanego systemu do pomiaru charakterystyk I-V i C-V struktur półprzewodnikowych wraz ze szkoleniem i dokumentacją
Details
- Avaldatud
- Hanke ID
- ocds-148610-c7d4a426-2dc4-4402-a1f8-9493b41308b5
- Ressursi ID
- 2026/BZP 00162813/01