Dostawa systemów do bezdotykowego pomiaru grubości kryształów azotku galu (GaN)
- Avots
- ezamowienia.gov.pl
- Statuss
- Līgums piešķirts
- Pircējs
- INSTYTUT WYSOKICH CIŚNIEŃ POLSKIEJ AKADEMII NAUK
- Piedāvājumu iesniegšanas termiņš
- Slēgts
- Paredzamā vērtība
- 560 000 PLN
- CPV kodi
- 38540000Ierīces un aparatūra pārbaudēm un mērījumiem
AI pārskats
Description
Przedmiotem zamówienia jest dostawa:• 6 identycznych systemów do jednostronnego, bezdotykowego pomiaru grubości kryształów i podłoży z azotku galu (GaN)• 1 systemu do dwustronnego, jednoczesnego pomiaru grubości kryształów z azotku galu (GaN), wyposażonego w dwa czujniki (góra/dół)Urządzenia przeznaczone będą do pomiarów grubości kryształów GaN na różnych etapach obróbki technologicznej, w tym również kryształów przyklejonych do metalowych nośników oraz wafli w jakości epi-ready.Systemy muszą umożliwiać pomiary bezdotykowe, eliminujące ryzyko uszkodzenia, zarysowania, zabrudzenia lub upadku badanego materiału (GaN jest materiałem kruchym).Szczegółowy opis przedmiotu zamówienia stanowi punkt 3 SWZ
Details
- Publicēts
- Iepirkuma ID
- ocds-148610-5e245e9e-95cb-4898-afba-ba34cb407e57
- Resursa ID
- 2026/BZP 00156123/01
Dokumenti (9)
- Basic Data
- SWZ PL KPO ZP-300 Pomiar.pdf
- Zalacznik nr 1 do SWZ PL Oferta Wykonawcy.docx
- Załącznik nr 2 do SWZ PL Oświadczenie o ......docx
- Zalacznik nr 3 do SWZ Projektowane postanowienia umowy.docx
- Załącznik nr 4 do SWZ PL Oświadczenia Wykonawców wspólnie....docx
- Załącznik nr 5 do SWZ PL DNSH oświadczenie Wykonawcy.docx
- ZP-300 Informacja_z_otwarcia_ofert.pdf
- ZP-300 Inforamcja o wyborze oferty najkorzystniejszej.pdf