stanowisko do elektrolitycznego przygotowania próbek wraz z systemem obserwacyjno – pomiarowym – (mikroskop optyczny odwrócony z kamerą).

      Staatus
      Leping sõlmitud
      Ostja
      Instytut Metalurgii i Inżynierii Materiałowej im. A. Krupkowskiego Polskiej Akademii Nauk
      Pakkumiste esitamise tähtaeg
      Suletud
      CPV koodid
      • 38634000Optilised mikroskoobid
      • 38651600Digitaalkaamerad

      AI ülevaade

      Description

      Mikroskop optyczny odwrócony z kamerą

      Details

      Avaldatud
      Hanke ID
      ocds-148610-c5238970-f275-47f8-9197-657dcfd3bd8f
      Ressursi ID
      2026/BZP 00039748/01

      Dokumendid (1)