Dostawa zestawu stanowiska pomiarowego typu Probe Station

Przedmiotem zamówienia jest dostawa zestawu stanowiska pomiarowego typu Probe Station przeznaczonego do wykonywania precyzyjnych pomiarów elektrycznych, optoelektronicznych oraz światłowodowych elementów półprzewodnikowych, w tym struktur epitaksjalnych, przyrządów elektronicznych, fotonicznych i optoelektronicznych. Stanowisko musi umożliwiać wykonywanie pomiarów z dostępem do obu stron badanej próbki (double-side probing). Dodatkowe informacje znajdują się w pkt 3 SWZ